Réflectomètre haute résolution AQ7420 : Analyse précise et rapide

par Nicolas Feste | 05 février, 2025

Yokogawa Test & Measurement Corporation a lancé son nouveau réflectomètre haute résolution AQ7420, utilisant la technologie OLCR (optical low-coherence reflectometry). Ce dispositif est idéal pour l'analyse de la structure interne des modules optiques et la visualisation des microfissures dans les connecteurs optiques.