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Journée technique : La contamination particulaire dans la fabrication et l'analyse

10 décembre 2013, 14:38
Journée technique : La contamination particulaire dans la fabrication et l'analyse
Journée technique : La contamination particulaire dans la fabrication et l'analyse

La maîtrise de la qualité d’air est un paramètre important pour garantir la qualité d’un produit dans de nombreux secteurs : pharmaceutique, biotechnologie, chimie, micro-électronique, aérospatial, agroalimentaire… Il faut en effet maîtriser la quantification particulaire de l’environnement, que ce soit pour l’assemblage en électronique, les processus de peinture, l’encapsulage de médicaments ou la mise en boîte de denrée alimentaire… Les halls de stockage, de fabrication et de contrôle doivent faire l’objet de vérifications.

 

Ces contaminations particulaires sont classifiées par taille et par nombre. Une certification de zone propre est possible. Il faut mesurer la qualité de l’air entrant et sortant, la contamination de surface, l’efficacité des filtres, des produits entrant dans la zone. Les salles blanches constituent l’étape ultime de la maîtrise de la qualité de l’air. Le but de la journée technique du Collège Français de Métrologie, qui se tiendra à Paris le 10 décembre, est de faire un point sur les questions-clés : 

- la révision de la norme ISO 14644 : cette présentation sera assurée par le représentant français au comité de normalisation de l’ISO 14644, 

- les différents types de monitoring particulaires rencontrés dans les unités de production, 

- les qualifications d’installation : comment faire ? et pour quel résultat ? 

- les tests d’efficacité de comptage des compteurs de particules optique et la norme ISO 21501-4. 


La journée sera composée de présentations techniques, de retours d'expériences et d'échanges entre participants et intervenants.

 

Quantifier la contamination particulaire dans les processus de fabrication et d'analyse

10 décembre 2013 (9h30 - 17h00)

Novotel Paris Gare de Lyon

2, rue Hector-Malot

75012 Paris

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