Lorsqu’un circuit intégré sort de fabrication, il doit passer par une série impressionnante de tests avant d’être validé.
Chaque broche du composant est sollicitée, alimentée, mesurée et analysée afin de vérifier son comportement. Dans cet environnement, la précision est telle qu’un courant parasite de quelques nanoampères peut influencer certains résultats et compliquer l’interprétation des mesures.
C’est pourquoi les composants de commutation utilisés dans les systèmes de test jouent un rôle souvent discret mais absolument essentiel.
Avec les nouveaux TLP3491 et TLP3487, Toshiba s’attaque directement à ce défi.

Quand la précision dépend du relais de commutation

Les équipements de test automatisés utilisent des relais pour connecter ou isoler rapidement les signaux appliqués au composant testé.
Ces dispositifs doivent être capables de commuter des tensions et des courants importants tout en restant pratiquement invisibles du point de vue de la mesure. Or, lorsqu’un relais laisse circuler un courant résiduel trop élevé à l’état bloqué, la qualité du test peut être affectée.
Dans les applications les plus sensibles, réduire le courant de fuite devient donc aussi important que la capacité de commutation elle-même.

Une nouvelle génération de photorelais optimisée pour les mesures critiques

Les TLP3491 et TLP3487 reposent sur une architecture de relais statiques à sortie MOSFET.
Grâce à l’optimisation de leur étage de puissance, ils atteignent un courant passant pouvant atteindre 2 A, tout en conservant un courant de fuite extrêmement faible. Le TLP3491 descend jusqu’à 1 nA sous 40 V, tandis que le TLP3487 affiche seulement 10 nA sous 60 V.
Ce niveau de performance représente un avantage particulièrement intéressant dans les équipements de test de haute précision où chaque paramètre compte.
Les ingénieurs peuvent ainsi améliorer la qualité des mesures sans compromettre la capacité de commutation.

Moins de composants, moins de contraintes

Traditionnellement, lorsqu’une application exige davantage de courant, plusieurs dispositifs de commutation sont parfois associés.
Cette approche augmente la surface occupée sur le circuit imprimé et peut entraîner une hausse du courant de fuite global. Avec les nouveaux photorelais Toshiba, il devient souvent possible de remplacer plusieurs composants par un seul.
Cette simplification réduit la complexité des schémas électroniques et facilite le routage des cartes de test.
Pour les fabricants d’équipements ATE, cet avantage se traduit directement par des architectures plus compactes.

Une miniaturisation adaptée aux plateformes de test modernes

Les systèmes de test actuels intègrent un nombre croissant de voies de mesure.
Pour répondre à cette densification, Toshiba propose ses nouveaux composants dans un boîtier P-SON4 particulièrement compact de 3,4 mm × 2,1 mm × 1,3 mm. Cette taille permet un gain de place important par rapport aux générations précédentes de photorelais.
À mesure que les canaux de test se multiplient, chaque millimètre carré économisé devient précieux.
Cette miniaturisation contribue directement à augmenter la densité fonctionnelle des équipements.

Des performances pensées pour l’industrie des semi-conducteurs

Les applications visées couvrent l’ensemble des équipements de validation et de caractérisation.
Les testeurs de circuits logiques rapides, les plateformes de validation de mémoires, les systèmes SoC ainsi que les instruments de mesure de laboratoire peuvent bénéficier de cette combinaison entre faible fuite, fort courant et faible encombrement.
Les nouveaux photorelais fonctionnent également sur une plage de température étendue de -40 °C à +110 °C, garantissant leur compatibilité avec différents environnements industriels.

Une réponse à l’évolution des systèmes de test

Les semi-conducteurs deviennent plus complexes, plus rapides et plus intégrés.
Pour suivre cette évolution, les équipements de test doivent eux aussi progresser en termes de densité, de précision et de performances électriques. Les photorelais ne constituent qu’un élément de la chaîne de mesure, mais ils influencent directement sa qualité globale.
Avec les TLP3491 et TLP3487, Toshiba illustre parfaitement la tendance actuelle consistant à augmenter simultanément les performances électriques tout en réduisant l’encombrement des composants.

Si vous développez des équipements de test, des instruments de mesure ou des plateformes de validation de semi-conducteurs, les nouveaux TLP3491 et TLP3487 montrent comment les technologies de commutation évoluent vers des solutions capables de combiner courant élevé, courants de fuite de l’ordre du nanoampère, boîtiers ultra-compacts et fiabilité industrielle, afin de répondre aux exigences croissantes des systèmes de test électroniques de nouvelle génération.

Toshiba Electronics Europe GmbH